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    MiniTest 4100涂鍍層測厚儀 (0篇用戶(hù)評論|寫(xiě)評論)
    商品品牌:德國EPK公司
    商品編號:MiniTest 4100
    商品積分:0  (積分可兌換優(yōu)惠券)
    市場(chǎng)價(jià)格:¥0.00元
    本站價(jià)格:¥0.00元
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    商品評論

    MiniTest 4100涂層測厚儀為多功能高精度的涂鍍層測厚儀,MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

    • 鋼鐵基體上的非磁性覆層
    • 有色金屬上的絕緣覆層
    • 絕緣基體上的有色金屬覆層

    所有型號均可配所有探頭;
    可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
    可使用一片或二片標準箔校準。  

    MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能的參數對比:

    型號
    1100
    2100
    3100
    4100
    MINITEST 存儲的數據量
    應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)
    1
    1
    10
    99
    每個(gè)應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動(dòng)統計,并可設寬容度極限值)
    -
    1
    10
    99
    可用各自的日期和時(shí)間標識特性的組數
    -
    1
    500
    500
    數據總量
    1
    10000
    10000
    10000
    MINITEST統計計算功能
    讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar
    -
    讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
    -
    -
    組統計值六種x,s,n,max,min,kvar
    -
    -
    組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
    -
    -
    存儲顯示每一個(gè)應用行下的所有組內數據
    -
    -
    -
    分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值
    -
    -
    顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間
    -
    其他功能
    透過(guò)涂層進(jìn)行校準(CTC)
    -
    在粗糙表面上作平均零校準
    利用計算機進(jìn)行基礎校準
    補償一個(gè)常數(Offset)
    -
    -
    外設的讀值傳輸存儲功能
    -
    保護并鎖定校準設置
    更換電池是存儲數值
    設置極限值
    -
    -
    公英制轉換
    連續測量模式快速測量,通過(guò)模擬柱識別最大最小值
    -
    -
    連續測量模式中測量穩定后顯示讀數
    -
    -
    浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數據傳送
    組內單值延遲顯示
    -
    連續測量模式中顯示最小值
    MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀可選探頭參數(探頭圖示)
    所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
    F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
    N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
    FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

    探頭
    量程
    低端
    分辨率
    誤差
    最小曲率
    半徑(凸/凹)
    最小測量
    區域直徑
    最小基
    體厚度
    探頭尺寸



    F05
    0-500μm
    0.1μm
    ±(1%±0.7μm)
    1/5mm
    3mm
    0.2mm
    φ15x62mm
    F1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    0.5mm
    φ15x62mm
    F1.6/90
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面/6mm
    5mm
    0.5mm
    φ8x8x170mm
    F3
    0-3000μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    0.5mm
    φ15x62mm
    F10
    0-10mm
    5μm
    ±(1%±10μm)
    5/16mm
    20mm
    1mm
    φ25x46mm
    F20
    0-20mm
    10μm
    ±(1%±10μm)
    10/30mm
    40mm
    2mm
    φ40x66mm
    F50
    0-50mm
    10μm
    ±(3%±50μm)
    50/200mm
    300mm
    2mm
    φ45x70mm

    FN1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm
    FN1.6P
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面
    30mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ21x89mm
    FN2
    0-2000μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    5mm
    F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm



    N02
    0-200μm
    0.1μm
    ±(1%±0.5μm)
    1/10mm
    2mm
    50μm
    φ16x70mm
    N.08Cr
    0-80μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    2.5mm
    2mm
    100μm
    φ15x62mm
    N1.6
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    1.5/10mm
    2mm
    50μm
    φ15x62mm
    N1.6/90
    0-1600μm
    0.1μm
    ±(1%±1μm)
    平面/10mm
    5mm
    50μm
    φ13x13x170mm
    N10
    0-10mm
    10μm
    ±(1%±25μm)
    25/100mm
    50mm
    50μm
    φ60x50mm
    N20
    0-20mm
    10μm
    ±(1%±50μm)
    25/100mm
    70mm
    50μm
    φ65x75mm
    N100
    0-100mm
    100μm
    ±(1%±0.3mm)
    100mm/平面
    200mm
    50μm
    φ126x155mm
    CN02
    10-200μm
    0.2μm
    ±(1%±1μm)
    平面
    7mm
    無(wú)限制
    φ17x80mm

    注:
    F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
    N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
    CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
    MiniTest 1100/2100/3100/4100涂層測厚儀探頭圖示


    FN1.6
    0~1600μm,φ5mm
    兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)


    FN1.6P
    0~1600μm,φ30mm
    兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度



    F05
    0~500μm,φ3mm
    磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
    量程低端分辨宰很高(0.1μm)


    F1.6
    0~1600μm,φ5mm
    磁性測頭
    量程低端分辨率很高(0.1μm)


    F3
    0~3000μm,φ5mm
    磁性測頭
    可用于較厚的覆層


    F1.6/90
    0~1600μm,φ5mm
    90度磁性測頭
    尤其適合于在管內壁測量
    量程低端分辨率很高(0.1μm)


    F10
    0~10mm,φ20mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等



    F20
    0~20mm,φ40mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


    F50
    0~50mm,φ300mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層


    N02
    0~200μm,φ2mm
    非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)


    N0.8Cr
    0~80μm,φ2mm
    適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層


    N1.6
    0~1600μm,φ2mm
    非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)


    N1.6/90
    0~1600μm,φ5mm
    磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
    尤其適合在管內壁測量
    量程低端分辨率很高(0.1μm)


    N10
    0~10mm,φ50mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等


    N20
    0~20mm,φ70mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等


    N100
    0~100mm,200mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等


    CN02
    10~200μm,φ7mm
    用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板
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